Методы анализа поверхности

В курсе описаны наиболее широко используемые методы анализа в современной науке о поверхности. В нем представлены сильные и слабые стороны каждого метода, так что вы можете выбрать тот, который предоставит вам необходимую информацию. В нем также рассматривается, что каждый метод не может дать вам, а также как интерпретировать результаты, полученные с помощью каждого метода.

В курсе приведены примеры, которые помогут вам познакомиться с графиками и цифрами, полученными из общих методов анализа поверхности.

Для каждого метода описывается основной принцип, схема аппаратуры, примеры результатов, особенности и примеры реальных устройств.

Курс состоит из 6 модулей.

Общая длительность курса - 10 недель.

В неделю требуется от 2 до 3 часов на изучение.

Модуль 1. Введение

• Введение

Модуль 2. Корпусулярная диагностика. Вторичная ионная масс-спектрометрия. Резерфордовское обратное рассеяние

2.1. Вторичная ионная масс-спектрометрия

• Принцип работы, схема установки
• Анализ и интерпретация результатов, примеры

2.2. Резерфордовское обратное рассеяние

• Принцип работы, схема
•  Анализ и интерпретация результатов, примеры

2.3. Анализ упруго отраженных атомов отдачи

•  Принцип работы, схема
• Анализ и интерпретация результатов, примеры

2.4. Метод ядерных реакций

• Принцип работы, схема
• Анализ и интерпретация результатов, примеры

Модуль 3. Электронная диагностика

3.1. Оже-спектрометрия

• Принцип действия, схема установки
• Анализ результатов, примеры

3.2. Энергодисперсионная спектрометрия

• Принцип действия, схема установки
• Анализ результатов, примеры

3.3.Просвечивающая электронная микроскопия

• Принципы работы прибора и схема
• Образцы изображений, их интерпретация

3.4. Сканирующая электронная микроскопия

• Принципы и схема устройства
• Образцы изображений, их интерпретация

Модуль 4. Лучевая диагностика

4.1. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

• Принцип работы устройства и схема
• Примеры результатов, их интерпретация

Модуль 5. Зондовые микроскопы

5.1. Туннельный микроскоп

• Принцип работы схемы устройства
• Образцы изображений, их интерпретация

5.2. Атомно-силовой микроскоп

• Принцип работы схемы устройства
• Образцы изображений, их интерпретация

Модуль 6. Заключение

• Заключение
• Подведение итогов, краткий обзор изученных методов

Прослушав курс, Вы узнаете:

• Какую информацию каждый метод может предоставить.
• Приложения, которые лучше всего подходят для каждого метода
• Ошибки или неопределенности, которые могут возникнуть при использовании каждого метода
• Особенности каждого метода
• Процедуры подготовки образцов, необходимые для каждого метода