Сертификат выдаётся после успешного выполнения всех контрольных заданий и итогового теста с асинхронным прокторингом.
Материалы курса доступны сразу после оплаты.
За последние несколько десятилетий увеличился интерес к металлическим аморфным и нанокристаллическим материалам. Эти материалы имеют особую структуру и необычные свойства. Поэтому они имеют большой потенциал к применению в различных областях техники как высокопрочные, износостойкие и коррозионно-устойчивые материалы. В данном курсе рассматриваются ocoбeннocти пpимeнeния coвpeмeнныx мeтoдoв иccлeдoвaния структуры и свойств мeтaлличecкиx мaтepиaлoв для изучения aмopфныx и нaнoкpиcтaлличecкиx cплaвoв.
В процессе освоения курса обучающийся знакомится с возможностями применения современного оборудования для изучения структуры и свойств аморфных и нанокристаллических металлических материалов. Курс содержит сведения по методам рентгеновской и нейтронной дифракции, сканирующей и просвечивающей микроскопии, калориметрии, дилатометрии, Рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, сканирующей туннельной микроскопии и т.д.
Присоединяйтесь к Telegram-каналу МИСИС Онлайн и каналу МИСИС Онлайн в MAX или пишите на openedu@misis.ru. Мы ответим на все ваши вопросы.
В состав курса входят видеолекции продолжительностью 30-45 минут, включающие 5-10 вопросов на самопроверку усвоения теоретического материала; материалы для самостоятельного изучения пользователями.
Модули завершаются тестами на проверку понимания материала (5-10 вопросов).
Для успешного освоения онлайн-курса слушателю нужно иметь базовую подготовку по курсам: «Методы исследования свойств металлов и сплавов», «Методы анализа структуры металлов и сплавов», «Теория термической обработки и основы эксперимента».
1. Криштал М. М Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического п... : учеб. пособие для студ. вузов, обуч. по напр. «Металлургия» Издательство: Техносфера: 2009 Пол. индекс: II-9 С-423 ISBN: 978-5-94836-200-7
2. Б. Фульц, Дж. М. Хау Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов : пер. с англ. М. : Техносфера, 2011 . – 903с. : рис. + Библиогр.: с. 805-820. - Прил.: с. 821-881 . – (Мир физики и техники) . - ISBN 978-5-94836-291-5
3. И. Б. Кекало Аморфные магнитные материалы: Разд.: Получение, процессы аморфизации, атомное строение, свойства : Курс лекций М. : Учеба, 2001 . – 275 с. + Библиогр.: с. 271-275.
4. Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; науч. ред. А. Н. Образцов Сканирующая зондовая микроскопия // Фундаментальные основы анализа нанопленок : пер. с англ М. : Науч. мир, 2012 . – С. 339-355 . – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники)
Курс состоит из трех разделов.
Раздел 1. Особенности аморфных и нанокристаллических металлических материалов
Урок 1. Введение
Урок 2. Особенности аморфных и нанокристаллических металлических материалов
Раздел 2. Современные методы исследования структуры аморфных и нанокристаллических сплавов
Урок 1. Методы рентгеновской и нейтронной дифракции
Урок 2. Сканирующая электронная микроскопия
Урок 3. Просвечивающая электронная микроскопия
Урок 4. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Сканирующий туннельный и атомно-силовой микроскоп
Раздел 3. Современные методы изучения свойств аморфных и нанокристаллических сплавов
Урок 1. Калориметрия
Урок 2 Дилатометрия
Урок 3. Магнитные свойства
В результате освоения курса у обучающихся формируются следующие компетенции
Знать:
Уметь:
Владеть:
ОПК-1: Способен решать производственные и/или исследовательские задачи, на основе фундаментальных знаний в области металлургии
ФГОС ВО (3++)
На текущий момент запись на курс завершена