Основы кристаллографии

Стоимость полного доступа к материалам курса — 7000 ₽ (включая НДС 22%). Оплата — единоразово, 100% предоплата. Доступ открывается сразу после оплаты. 

У курса есть бесплатная ознакомительная часть: нажмите на кнопку “Записаться”, этот курс появится у вас в разделе “Мои курсы”, и вы сможете посмотреть бесплатные общедоступные видеолекции, после чего принять решение: покупать курс или нет.

Что вы получите после оплаты:

• Доступ ко всем материалам курса (видеолекции + тесты).
• Возможность пройти итоговый тест с процедурой идентификацией личности (прокторинг).
• Возможность получить электронный сертификат, если наберете 60% баллов за тесты к разделам и итоговый тест. ВАЖНО: сертификат не является документом государственного образца!
• Если вы хотите пройти курс как программу повышения квалификации с выдачей удостоверения гос. образца - напишите на openedu@mephi.ru

Как оплатить и получить доступ ко всем материалам:

• Зарегистрируйтесь на портале openedu.ru.
• Запишитесь на курс (кнопка "Записаться" справа).
• Курс появится в разделе “Мои курсы”, вы сможете посмотреть бесплатную часть.
• Оплатите курс в разделе "Мои курсы".
• Сразу после оплаты вам откроется доступ ко всем материалам.
• Изучайте материалы в удобное время, без дедлайнов и дополнительных проверок.

Хотите официальное удостоверение?

Вы можете пройти повышение квалификации по этому курсу в онлайн-формате. В отличие от сертификата, удостоверение о повышении квалификации — это официальный документ государственного образца (72 часа, ФИС ФРДО).

Записаться на программу повышения квалификации можно по ссылке.

Данный курс состоит из 3 модулей, которые включают видеоматериалы и тесты.

Физическое материаловедение: Учебник для вузов:./ Под общей ред. Б. А. Калина. М.:НИЯУ МИФИ, 2012. Т. 1. Физика твердого тела / Г.Н. Елманов, А. Г. Залужный, В.И. Скрытный, Е.А. Смирнов, Ю.А. Перлович, В.Н. Яльцев. Гл. 1. Физическая кристаллография. М.:НИЯУ МИФИ, 2012. – 764 с.

Яльцев В.Н., Скрытный В.И. Практикум по физической кристаллографии: Учебное пособие. М.: НИЯУ МИФИ, 2011. – 88 с.

Необходимо знание основ физики твердого тела, математического анализа, тензорного и векторного анализа, аналитической геометрии, линейной алгебры.

Модуль 1

Неделя 1. Кристаллическое состояние

История развития кристаллографии. Вклад российских и советских ученых в развитие кристаллографии. Основные свойства кристаллического вещества. Решетка и структура кристаллов.

Неделя 2. Основы геометрической кристаллографии

Кристаллографические проекции. Измерение углов между направлениями и плоскостями. Кристаллографические системы координат. Четвертый индекс в гексагональной системе.

Неделя 3. Обратная решетка

Обратная решетка Матрица ортогонального преобразования. Основные формулы структурной кристаллографии.

Модуль 2

Неделя 4. Основы теории групп. Симметрия кристаллов

Закрытые и открытые элементы симметрии. Комбинации элементов симметрии. Элементы теории групп. Точечные группы симметрии. Решетки Бравэ. Пространственные группы. Экспериментальное определение элементов симметрии. Предельные группы симметрии.

Неделя 5. Структура кристаллов

Плотнейшие упаковки. Структурные типы кристаллов химических элементов. Структурные типы соединений типа АВ, АВ2, АmВnCk. Сверхструктуры в твердых растворах замещения.

Неделя 6. Симметрия кристаллов и физические свойства

Принципы симметрии Кюри, Неймана. Тензорное описание физических свойств кристаллов. Упругие свойства кристаллов.

Модуль 3

Неделя 7. Кристаллография пластической деформации

Геометрия пластической деформации в монокристаллах. Системы скольжения в ГЦК, ОЦК, ГПУ кристаллах. Двойникование. Кристаллографическая текстура.

Неделя 8. Развороты зерен

Взаимные развороты зерен. Разворот зерен в поликристалле.

Неделя 9. Кристаллография мартенситных превращений

Мартенситное превращение. Деформация Бейна.

Неделя 10. Кристаллография границ раздела

Кристаллография границ зерен. Решетки совпадающих узлов. Эквивалентные развороты. Кристаллография поверхности. Реконструкция и релаксация поверхности.