Методы оценки и повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства

Курс посвящен вопросам радиационной стойкости электронной компонентной базы, работающей в условиях космического пространства. Основное внимание уделено принципам задания и подтверждения требований радиационной стойкости электронных компонентов (полупроводниковых приборов, изделий микроэлектроники и т.д.) для комплектования аппаратуры, способам оценки и повышения радиационной стойкости компонентов и блоков аппаратуры космического применения.

Модуль 1. Прогнозирование уровня воздействия ИИ КП и частоты одиночных событий для космической электроники.

Модуль 2. Оценка стойкости номенклатуры электронной компонентной базы к воздействию ИИ КП.

Модуль 3. Методы испытаний электроники на стойкость к воздействию ИИ КП по эффектам поглощенной дозы и структурных повреждений.

Модуль 4. Методы испытаний электроники на стойкость к воздействию ИИ КП по одиночным эффектам.

Модуль 5. Методы повышения стойкости электроники к воздействию ионизирующих излучений космического пространства.

Модуль 6. Повышение стойкости к воздействию ИИ КП технологическими, схемотехническими и программными методами.