Стоимость прохождения процедур оценки результатов обучения с идентификацией личности - 7000 Р.
Стоимость полного доступа к материалам курса — 7000 ₽ (включая НДС 22%). Оплата — единоразово, 100% предоплата. Доступ открывается сразу после оплаты.
У курса есть бесплатная ознакомительная часть: нажмите на кнопку “Записаться”, этот курс появится у вас в разделе “Мои курсы”, и вы сможете посмотреть бесплатные общедоступные видеолекции, после чего принять решение: покупать курс или нет.
Вы можете пройти повышение квалификации по этому курсу в онлайн-формате. В отличие от сертификата, удостоверение о повышении квалификации — это официальный документ государственного образца (72 часа, ФИС ФРДО).
Записаться на программу повышения квалификации можно по ссылке.
Как получить сертификат?
Оплатить доступ ко всему контенту, пройти все тесты (включая итоговый) минимум на 60 баллов из 100. Напоминаем - это не документ государственного образца.
Как долго будет доступен курс?
Доступ к видеолекциям сохраняется на весь период сессии (минимум 14 дней с даты оплаты). Вы можете вернуться к материалам в любое время.
Какие технические требования?
Компьютер с доступом в интернет (от 1 Мбит/с), современный браузер.
Остались вопросы? Напишите нам: openedu@mephi.ru
Обучение ведётся на русском языке. Все услуги предоставляются в соответствии с публичной офертой.
Списки рекомендуемой литературы приведены в конспектах к модулям курса.
Тема 1. Источники ионизирующих излучений космического пространства.
Тема 2. Физические механизмы взаимодействия излучения с веществом.
Тема 3. Дозовые ионизационные эффекты в полупроводниковых приборах и интегральных микросхемах.
Тема 4. Эффекты структурных повреждений в полупроводниковых приборах и интегральных микросхемах.
Тема 5. Одиночные эффекты при воздействии отдельных ядерных частиц в полупроводниковых приборах и интегральных микросхемах.
Знание видов и источников ионизирующих излучений космического пространства их состав и основные характеристики.
Знание видов ионизирующих излучений и характеристик, используемые для их описания.
Знание основных физических механизмов, приводящие к образованию эффектов поглощенной дозы в изделиях электроники.
Знание основных физических механизмов, приводящие к образованию эффектов структурных повреждений в изделиях электроники.
Знание основных физических механизмов, приводящие к образованию одиночных радиационных эффектов в изделиях электроники.
Умение описать формирование основных источников ионизирующих излучений космического пространства.
Умение описать основные физические законы взаимодействия частиц ионизирующих излучений с веществом, описать формирование первичных радиационных эффектов при воздействии ионизирующих излучений разных видов
Умение описать формирование первичных и вторичных радиационных эффектов поглощенной дозы в изделиях электроники.
Умение описать формирование первичных и вторичных радиационных эффектов структурных повреждений в изделиях электроники.
Умение описать формирование первичных и вторичных одиночных радиационных эффектов в изделиях электроники.
Владение способностью определять основные источники радиационных воздействий в зависимости от типа орбиты
Владение способностью определять доминирующие механизмы и радиационные эффекты при воздействии ионизирующих излучений заданного вида и спектрально-энергетических характеристик
Владение способностью качественно оценить прогнозируемые изменения параметров изделий электроники различных технологических базисов и функциональных групп при проявлении радиационных эффектов поглощенной дозы.
Владение способностью качественно оценить прогнозируемые изменения параметров изделий электроники различных технологических базисов и функциональных групп при проявлении радиационных эффектов структурных повреждений
Владение способностью качественно оценить прогнозируемые изменения параметров изделий электроники различных технологических базисов и функциональных групп при проявлении одиночных радиационных эффектов.
В результате обучения по курсу слушатель будет
Знать:
Уметь:
Владеть:
